Представление документа в формате MARC21

ПолеНазваниеЗначение
  Тип записи a
  Библиографический уровень m
001 Контрольный номер RU/URAIT/514643
003 Принадлежность контрольного номера https://urait.ru/bcode/514643
005 Дата корректировки 20230913130129.0
008 Кодируемые данные
020 Индекс ISBN __
a ISBN 978-5-534-06011-9
c Цена, тираж 819.00
040 Источник каталогиз. __
a Служба первич. каталог. ИКО Юрайт
b Код языка каталог. rus
c Служба, преобразующая запись ИКО Юрайт
041 Код языка издания 0_
a Код языка текста rus
044 Код страны публикации __
a Код страны публикации RU
073 _1
a 9785534060119
d 819.00
080 Индекс УДК __
a Индекс УДК 67.017(075.8)
084 Индекс другой классификации/Индекс ББК __
a Индекс другой классификации/Индекс ББК 30.3я73
2 Источник индекса rubbk
091 Индексы/ коды __
a Индекс ББК (DOS) 30.3я73
z rubbk
100 Автор 1_
a Автор Суворов Э. В.
q Полное имя Эрнест Витальевич
230 __
a Электрон. дан.
245 Заглавие 00
a Заглавие Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов
b Продолж. заглавия учебное пособие
c Ответственность Э. В. Суворов.
250 Сведения об издании __
a Основные сведения об издании 2-е изд.
b Дополнительные сведения об издании пер. и доп
260 Выходные данные 1_
a Место издания Москва
b Издательство Юрайт
c Дата издания 2023
300 Физическое описание __
a Объем 180 с
440 Серия _0
a Серия Высшее образование
500 Примечания __
a Примечание URL: https://urait.ru/bcode/514643 (дата обращения: 13.09.2023).
520 Аннотация __
a Аннотация С конца прошлого столетия широкое распространение в целом ряде направлений новой техники получили принципиально новые материалы, такие как нанокристаллы, квазикристаллы, фуллерены, магнитные кристаллы с особыми свойствами и др. Изучение их структуры и свойств требует привлечения комплекса разнообразных физических методов исследования, взаимно дополняющих друг друга. Большинство известных в настоящее время экспериментальных методов исследования структуры материалов основано на взаимодействии излучений разной природы с исследуемыми материалами и последующим анализом картин рассеяния. Курс посвящен дифракционным методам исследования структуры и состава материалов. Необходимость курсаобусловлена прежде всего тем, что учебные курса по этому направлению в отечественной литературе практически отсутствуют. Автор курса — известный специалист в области дифракции рентгеновского излучения на различных структурах, механизмов образования дифракционного изображения дефектов в кристаллах — делает попытку восполнить этот пробел.
538 Прим. о системных особенностях __
a Прим. о системных особенностях Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Физика. Астрономия
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Естественные науки
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Физика реального кристалла
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Рентгенография и электронная микроскопия
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Теория строения материалов
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Кристаллография, рентгенография и микроскопия
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Основы теории строения материалов
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Основы физики жидких кристаллов
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Методы структурного анализа металлов и сплавов
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Физико-химический анализ в неорганическом материаловедении
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Реальная структура материалов
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Физико-химические основы материаловедения и технологии получения материалов
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Кристаллография и физика твердого тела
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Физико-химические основы материаловедения
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Рентгенография
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Физико-химический анализ - основа современного материаловедения
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Методы исследования физико-механических свойств материалов
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Рентгенография наноматериалов
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Рентгенография и микроскопия
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Рентгенография кристаллов
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Физика реальных кристаллов
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Методы анализа состава материалов
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Методы структурного анализа материалов
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Рентгенография и микроскопия: проектное обучение
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Современные методы структурного анализа в материаловедении
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Структурный анализ сплавов
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Введение в физику жидких кристаллов
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Основы физики прочности и материаловедение
653 Ключевые слова 2_
a Ключевые слова Физика и методы исследования наноструктур
856 Электронный адрес документа 40
n Местонахождение сервера Юрайт
g Электронная книга
q Тип электронного формата html
h Имя пользователя ЮРАЙТ
v Часы доступа к ресурсу 20251231
2 Способ доступа Показать документ
x Служебное примечание https://urait.ru/book/cover/8B3606B5-3295-46BC-B103-F7739B1DD159
u URL https://urait.ru/bcode/514643
856 Электронный адрес документа 41
q Тип электронного формата cover
u URL https://urait.ru/book/cover/8B3606B5-3295-46BC-B103-F7739B1DD159